Качество и надежность интегральных микросхем
Козырь И.Я., Коледов А.Л.
М. : Высш. шк., 1987 - 137 с.В пособии приведены сведения об основных понятиях теории и количественных показателях качества и надежности интегральных микросхем; рассмотрены методы контроля качества, расчета и оценки надежности, а также вопросы прогнозирования и повышения показателей качества и надежности ИМС и БИС.